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半自動(dòng)臺(tái)階儀 JS100B 國(guó)產(chǎn)半自動(dòng)臺(tái)階儀JS100B/200B/300B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量。JS100B提供兩個(gè)彩色攝像頭對(duì)樣品和針尖同時(shí)成像，可無(wú)畸變的觀察樣品區(qū)，方便定位特征區(qū)域，同時(shí)探針掃描時(shí)可實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量

SEM冷凍真空傳輸系統(tǒng)高匹配360°(無(wú)限)旋轉(zhuǎn)冷臺(tái)，冷臺(tái)傾轉(zhuǎn)角度55°，冷臺(tái)溫度≤180℃。

SEM熱電芯片臺(tái)可搭配電學(xué)測(cè)試，兼容型號(hào)掃描電鏡，芯片兼容TEM-MEMS原位芯片樣品桿。

PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測(cè)量系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場(chǎng)耦合研究。

PicoFemto掃描電鏡原位光電力一體化系統(tǒng)，集成了掃描探針控制單元，可在三維空間內(nèi)對(duì)電學(xué)探針與光纖探針進(jìn)行亞納米級(jí)別精度的操縱與定位。