ContourX家族的桌面旗艦型號(hào)，全自動(dòng)設(shè)計(jì)，帶編碼器的樣品臺(tái)，頭部?jī)A斜設(shè)計(jì)，和AcuityXR實(shí)現(xiàn)高橫向分辨率

三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500 是全球功能***的自動(dòng)化臺(tái)式系統(tǒng)，可快速完成非接觸式三維表面計(jì)量。ContourX-500 具有**的 Z 軸分辨率和準(zhǔn)確度，并具備布魯克落地式白光干涉（WLI）儀器廣受業(yè)界認(rèn)可的所有優(yōu)勢(shì)，而占地面積更小。該款輪廓儀可輕松自主配置，適用于從精密加工表面和半導(dǎo)體工藝的質(zhì)量保證／質(zhì)量控制（QA/QC）計(jì)量到眼科和微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）器件的研發(fā)表征等廣泛的復(fù)雜應(yīng)用。

傾斜/俯仰

光學(xué)頭

旋轉(zhuǎn)測(cè)頭進(jìn)行不同角度測(cè)量表面特征時(shí)，將跟蹤誤差減至**。

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用戶界面

提供對(duì)大量預(yù)編程過(guò)濾器和分析程序的直接調(diào)用。

集成式

氣浮隔震

在緊湊空間內(nèi)提供最佳計(jì)量精度。

特點(diǎn)

專為**臺(tái)式計(jì)量設(shè)計(jì)

布魯克專有的光學(xué)頭傾斜/俯仰技術(shù)，為用戶生產(chǎn)設(shè)置和檢測(cè)提供極大的靈活度。布魯克將自動(dòng)傾斜/俯仰功能與顯微鏡頭中的光路相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)了檢測(cè)點(diǎn)與視線的結(jié)合，不受傾斜影響，從而減少操作人員的干預(yù)，提供最大可重現(xiàn)性。其他硬件功能包括創(chuàng)新工作臺(tái)設(shè)計(jì)，可提升拼接能力；配備一只 5MP 攝像頭，并采用 1200x1000 測(cè)量陣列，可降低噪聲、擴(kuò)大視場(chǎng)并提高橫向分辨率。ContourX-500 將這些功能與自動(dòng)化平臺(tái)設(shè)置和物鏡相融合，而且僅占較小的空間，成為“按需測(cè)量”研發(fā)和工業(yè)計(jì)量的理想系統(tǒng)。

傳統(tǒng)的俯仰滾動(dòng)工作臺(tái)設(shè)計(jì)需要操作人員調(diào)整五個(gè)旋轉(zhuǎn)軸，以將檢測(cè)點(diǎn)保持在視線上進(jìn)行測(cè)量。布魯克**的光學(xué)頭傾斜/俯仰設(shè)計(jì)，不受傾斜影響，都能將視線保持在檢測(cè)點(diǎn)上，從而優(yōu)化圖像采集，并大幅縮短數(shù)據(jù)獲取時(shí)間。

直接使用多種分析

分析微流體器件的底部通道，通過(guò) Vision64 的多個(gè)區(qū)域直接提取。

三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500 采用布魯克簡(jiǎn)單而強(qiáng)大的 VisionXpress™ 和 Vision64® 用戶界面，提供數(shù)千種自定義分析以提升實(shí)驗(yàn)室和工廠的效率。布魯克全新通用掃描干涉（USI）測(cè)量模式可提供全自動(dòng)、自感知式表面紋理、優(yōu)化信號(hào)處理，同時(shí)對(duì)所分析的表面形貌執(zhí)行最準(zhǔn)確、最實(shí)際的計(jì)算。